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PI產品如何應對工業電源中的EMI問題

Power Integrations(PI)通過創新的硬件設計和智能控制技術,系統性解決工業電源中的EMI問題,具體策略如下:

 一、源頭抑制:優化高頻開關噪聲

‌PowiGaN/SiC技術‌集成氮化鎵/碳化硅開關器件(如InnoSwitch3-EP),降低開關損耗與電壓突變率(dv/dt),從源頭減少共模干擾產生。1700V耐壓SiC MOSFET將開關頻率提升至MHz級,使EMI頻譜向高頻偏移,更易被濾波元件抑制‌。

‌FREDFET集成設計‌BridgeSwitch-2電機驅動器內置快恢復二極管FREDFET,抑制開關管關斷時的反向恢復電流,降低差模干擾幅度(實驗顯示EMI輻射降低40%以上)‌。

? 二、耦合路徑阻斷:隔離與濾波

‌FluxLink磁感隔離技術‌取代傳統光耦,在初次級電路間建立無磁芯磁耦合通道(如HiperLCS-2),消除光耦老化導致的隔離失效風險,阻斷共模噪聲傳導路徑,同時提升響應速度(傳輸延遲<20ns)‌。

‌單級多路輸出架構‌InnoMux-2芯片直接生成多路穩壓輸出,省去后級DC-DC變換環節,減少高頻開關節點數量,顯著降低傳導EMI(系統效率提升10%,噪聲頻譜幅度下降15dBμV)‌。

三、噪聲消除:拓撲與算法優化

‌LLC諧振軟開關‌HiperLCS-2控制器驅動半橋LLC拓撲,實現零電壓開關(ZVS)和零電流開關(ZCS),將開關損耗轉移至諧振過程,抑制電流突變(di/dt),使EMI基波強度降低50%以上‌。

‌突發模式與頻率抖動‌輕載時自動切換突發模式,縮短高頻開關持續時間;疊加±4%開關頻率調制,分散EMI能量譜線,避免單頻點超標(實測150kHz-30MHz頻段噪聲下降6-10dB)‌。

? 四、系統級防護:布局與封裝強化

‌集成化POWeDIP封裝‌內置散熱金屬基板與絕緣陶瓷層(熱阻<1℃/W),縮短功率回路路徑,減小環路輻射面積。同時集成同步整流控制器,避免MOSFET誤開通導致的振蕩噪聲‌。

‌接地與屏蔽設計指導‌方案文檔明確推薦:

采用星型單點接地(接地電阻<1Ω),分離功率地與信號地‌58;高頻變壓器屏蔽層直接連接初級直流母線負極,阻斷共模電流通道‌69;輸出線纜套磁環(阻抗≥1kΩ@100MHz),抑制輻射干擾‌。

總結

PI通過 ‌“源頭降噪-路徑隔離-頻譜優化-布局防護”‌ 四重機制,將工業電源EMI控制融入芯片級設計:

‌材料創新‌(GaN/SiC)降低開關應力;‌拓撲革新‌(LLC+單級多路)減少干擾節點;‌智能算法‌(頻率抖動+突發模式)分散噪聲能量;‌封裝集成‌(FluxLink+POWeDIP)壓縮輻射環路。配合嚴格的接地規范,系統EMI裕量可提升15dB以上,滿足工業環境CISPR 32/EN 55032 Class A標準‌

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xxbw6868
LV.10
2
07-14 13:37

對于無Y-CAP電源,變壓器繞制時需先繞初級,再繞輔助繞組并緊靠一邊,最后繞次級,以減少干擾。PI的電源芯片有很多新技術,如‌FluxLink技術。

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沈夜
LV.8
3
07-22 01:59

如何通過硬件和軟件結合降低工業電源的EMI(電磁干擾)?

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07-22 23:54

‌單級多路輸出架構‌InnoMux-2芯片直接生成多路穩壓輸出,省去后級DC-DC變換環節,減少高頻開關節點數量,顯著降低傳導EMI(系統效率提升10%,噪聲頻譜幅度下降15dBμV)‌。

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07-22 23:55

‌LLC諧振軟開關‌HiperLCS-2控制器驅動半橋LLC拓撲,實現零電壓開關(ZVS)和零電流開關(ZCS),將開關損耗轉移至諧振過程,抑制電流突變(di/dt),使EMI基波強度降低50%以上‌。

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htwdb
LV.8
6
07-23 10:00

<1℃/W系統熱阻是否包含界面導熱材料(TIM)的影響?實測條件(如冷板溫度、邊界條件)是否與真實應用場景匹配?

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only one
LV.8
7
07-23 23:40

PI通過 ‌“源頭降噪-路徑隔離-頻譜優化-布局防護”‌ 四重機制,將工業電源EMI控制融入芯片級設計:怎么設計的?

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07-24 07:56

EMI對傳統信號傳輸的挑戰主要有哪些

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07-24 08:40

EMI對信號傳輸有哪影響

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only one
LV.8
10
07-25 00:47

‌突發模式與頻率抖動‌輕載時自動切換突發模式,縮短高頻開關持續時間;疊加±4%開關頻率調制,分散EMI能量譜線,避免單頻點超標(實測150kHz-30MHz頻段噪聲下降6-10dB)‌。會有什么影響?

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dy-XU5vrphW
LV.8
11
07-25 07:32

如何從信號傳輸曲線來分析這個變化過程

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dy-nmLUWFNr
LV.8
12
07-25 07:50

怎么樣有效減小EMI對信號傳輸的影響

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dy-StTIVH1p
LV.8
13
07-25 08:04

工業電源的EMI會帶來哪些不利影響

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dy-HVtKSbgH
LV.5
14
07-25 08:48

PI通過頻率抖動技術、集成化設計、高效濾波方案及布局優化等核心策略,系統性解決工業電源中的EMI問題

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cwm4610
LV.6
15
07-25 09:14

樓主分享的知識點很不錯哦,歸納總結了所有的知識點。

值得推薦學習!

但是理論需要和實際聯系起來~

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07-26 17:02

在初次級電路間建立無磁芯磁耦合通道,消除光耦老化導致的隔離失效風險,這個可以詳細解答一下嗎

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07-27 22:04

EMI作用很重要,不可或缺

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方笑塵MK
LV.8
18
08-10 19:01

除了PI的產品,還可以采用零電壓開通(ZVS)或零電流關斷(ZCS)拓撲,降低dv/dt和di/dt。

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opingss88
LV.10
19
08-20 20:40

初級旁路引腳電壓下降時,初級旁路引腳欠壓電路將停止功率MOSFET開關

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旻旻旻
LV.8
20
08-20 21:51

利用諧振腔電流/電壓的自然過零特性,實現零電壓開通和零電流關斷

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dy-XU5vrphW
LV.8
21
08-21 08:41

EMI對信號傳輸有哪些不利影響

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dy-XU5vrphW
LV.8
22
08-21 08:59

是否可以結合具體的實踐案例來介紹這個設計

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dy-nmLUWFNr
LV.8
23
08-21 09:11

電源的EMI帶來的不利影響主要有哪些

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dy-nmLUWFNr
LV.8
24
08-21 09:21

怎么樣有效降低EMI對信號傳輸的影響

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ZT0oo0
LV.4
25
08-21 15:49

PI產品用PowiGaN/SiC技術降低dv/dt減少共模干擾,從電路原理講,dv/dt和共模干擾咋關聯的,降低dv/dt為啥能有效減少共模干擾呀?

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08-25 23:37

‌FluxLink磁感隔離技術‌取代傳統光耦,在初次級電路間建立無磁芯磁耦合通道,可以省去外部光耦器。

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08-25 23:38

‌FluxLink可以消除光耦老化導致的隔離失效風險,阻斷共模噪聲傳導路徑,同時提升響應速度,優勢很明顯。

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fzwwj95
LV.6
28
08-28 14:09

樓主的整理非常系統,把PI產品在EMI上的幾大核心思路都串起來了,尤其是“源頭降噪+路徑隔離+頻譜優化+布局防護”的邏輯,很適合做工程設計時的checklist

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fzwwj95
LV.6
29
08-28 14:09
@xxbw6868
對于無Y-CAP電源,變壓器繞制時需先繞初級,再繞輔助繞組并緊靠一邊,最后繞次級,以減少干擾。PI的電源芯片有很多新技術,如‌FluxLink技術。

確實,變壓器繞制工藝對無Y-CAP電源的EMI抑制很關鍵。除了繞組順序,還可以通過分布電容建模來提前評估效果,再結合PI芯片的頻率抖動技術,整體抗干擾能力會更強

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fzwwj95
LV.6
30
08-28 14:09
@沈夜
如何通過硬件和軟件結合降低工業電源的EMI(電磁干擾)?

硬件+軟件結合的思路一般是:硬件上通過拓撲優化(LLC、ZVS/ZCS)、布局緊湊化和濾波器設計來降低干擾源;軟件上則通過突發模式、頻率抖動、動態負載調節來打散能量譜,實現互補。兩者配合比單獨做硬件/軟件更有效。

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fzwwj95
LV.6
31
08-28 14:10
@htwdb
<1℃/W系統熱阻是否包含界面導熱材料(TIM)的影響?實測條件(如冷板溫度、邊界條件)是否與真實應用場景匹配?

<1℃/W的熱阻通常是在標準測試板、冷板溫度恒定條件下測的,TIM的影響需要額外考慮。實際應用里,如果散熱界面材料導熱率不佳,整體系統熱阻會比官方數據偏高,需要預留余量

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